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TWS高通量测试方案

发表时间:2021/12/30 阅读量:1802 来源: 深圳市中承科技有限公司
可实现一托四,OTA测试,即可同步测试四个被测件,不会互相干扰,可以极大节省测试时间成本。

可实现一托四,OTA测试,分时测试四个被测件,不会互相干扰,可以极大节省测试时间成本和测试成本。


TWS高通量测试方案.jpg

  

痛点问题 

对于生产商而言,传统的测试方案大多是有乒乓+多个屏蔽箱的方式测试,增加了测试成本和场地面积,一旦产品数量众多每次测试还需要人工进行轮换被测件依次进行测试,无疑将会耗费大量时间成本。


推荐方案

TWS高通量测试方案——领先行业技术实现1托4:仪表可以支持1托多拼板测试(至多可支持对四个被测件分时测试),且能够保障四个被测件与单个被测件测量数据基本相差无误,减少人工轮换被测件的次数,节约时间成本,适用于大规模量产测试。


测试方法

(1)标记4个被测件为DUT1,DUT2,DUT3,DUT4,使用网线连接上位机,射频线分别连接仪表、屏蔽箱。

(2)将4个被测件按对应位置放入屏蔽箱中,DUT1位置不变,在PC端调试进入测试模式,启动测试依次检测该4个被测件的输出功率、灵敏度、调制特性、初始载波频率容限偏置和频漂等指标数据。


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(3)汇总数据,对比并分析。


测试时间

被测件

DUT1

DUT2

DUT3

DUT4

测试项

输出功率、灵敏度、调制特性、初始载波频率容限、频偏和频漂

测试信道

Channel 03978

测试单个DUT时间

14s

14s

14s

14s

测试总时间

52 s